掃描電子顯微鏡（SEM）如何工作？
- 電子和電磁透鏡的光源來自放置在柱頂?shù)逆u絲燈，與透射電子顯微鏡的鎢絲燈相似。
- 在將熱能施加到電子源后，電子會發(fā)射出來，并以快速運(yùn)動的方式移動到陽極，陽極帶有正電荷。
- 電子束從樣品表面激活高能級的初級散射（主）電子和低能級的次級電子的發(fā)射。電子束與樣品相互作用產(chǎn)生信號，該信號給出有關(guān)樣品表面形貌和成分的信息。
- 樣品無需特殊處理即可在SEM下進(jìn)行可視化，甚至可以直接檢查風(fēng)干樣品。但是，微生物標(biāo)本需要固定，脫水和干燥，以在暴露于高真空顯微鏡下時保持細(xì)胞的結(jié)構(gòu)特征并防止細(xì)胞崩潰。
- 樣品被安裝并涂有薄層重金屬元素，以允許電荷在樣品表面上的空間散射，從而可以更好地產(chǎn)生具有較高清晰度的圖像。
- 通過在顯微鏡的薄部分上來回傾斜電子束來實現(xiàn)此顯微鏡的掃描。當(dāng)電子到達(dá)標(biāo)本時，表面會釋放出微小的電子aw，稱為二次電子，然后被特殊的檢測器捕獲。
- 當(dāng)二次電子到達(dá)并進(jìn)入探測器時，它們撞擊閃爍體（一種被帶電粒子或高能光子撞擊時發(fā)出熒光的發(fā)光材料）。這會發(fā)出閃光，然后通過光電倍增管將其轉(zhuǎn)換為電流，從而向陰極射線管發(fā)送信號。這將產(chǎn)生看起來像可以觀看和拍攝的電視圖像的圖像。
- 進(jìn)入檢測器的二次電子的數(shù)量由樣品的性質(zhì)高度定義，即凸起的表面接收大量的電子，進(jìn)入檢測器，而凹陷的表面到達(dá)表面的電子更少，因此進(jìn)入檢測器的電子更少。
- 因此，凸起的表面在屏幕上看起來更亮，而凹陷的表面在屏幕上看起來更暗。
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